CSK-IIA-2試塊測試方法

CSK-IIA-2試塊測試方法

橫波靈敏度的設定：將選用已校驗好的的斜探頭

探頭置于示意圖10中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖10中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖10中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。

探頭置于示意圖10中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。

探頭置于示意圖10中e位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。

探頭置于示意圖10中f位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。

探頭置于示意圖10中g位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第七點。

探頭置于示意圖10中h位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第八點。

探頭置于示意圖10中i位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第九點。

探頭置于示意圖10中j位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第十點。

將以上十點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線。
 

縱波靈敏度設定：將選用已校驗好的直探頭

探頭置于示意圖10中k位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖10中l(wèi)位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為**點。

探頭置于示意圖10中m位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。

探頭置于示意圖10中n位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。

探頭置于示意圖10中o位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。

探頭置于示意圖10中p位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。

探頭置于示意圖10中q位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第七點。

探頭置于示意圖10中r位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第八點。

將以上八點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線，此時的靈敏度即為基準靈敏度。